ZEISS METROTOM 1
tomografia komputerowa CT
Dzięki ZEISS METROTOM 1 można zlecić i wykonać złożone zadania pomiarowe i kontrolne. Żeby tego dokonać wystarczy pojedynczy skan. Dedykowany system do pomiaru i kontroli ukrytych struktur oraz wad wewnętrznych, niemożliwych do wykrycia przez urządzenia stykowe czy optyczne. ZEISS METROTOM 1 to praktyczne rozwiązanie pozwalające rozszerzyć zakres kontroli jakości przy użyciu przemysłowej tomografii komputerowej. Urządzenie to bardzo dobrze sprawdzi się przy pomiarach części o maksymalnych wymiarach 165 × 140 mm. Polecane jest także do detekcji wad w elementach wykonanych z tworzyw sztucznych lub lekkich metali.
PROSTE I PRECYZYJNE ROZWIĄZANIE
ZEISS METROTOM 1 został stworzony z myślą o użytkowniku. Proces instalacji urządzenia jest szybki, a do rozpoczęcia pomiaru wystarczy tylko jedno kliknięcie. Tomograf ten pozwala na pomiar i ocenę części oraz ich zespołów. ZEISS METROTOM 1 ma zaskakująco niewielkie rozmiary. Wynoszą one 1750 mm (szer.) x 1820 mm (wys.) x 870 mm (gł.). Oznacza to, że system ten z pewnością zmieści się w każdym laboratorium pomiarowym.
NIENISZCZĄCY POMIAR I GWARANCJA BEZBŁĘDNYCH PRODUKTÓW
Już nawet jeden skan umożliwia pomiar, analizę i inspekcję ukrytych wad oraz struktur wewnętrznych. Przestrzeń pomiarowa pozwala na prześwietlenie jednocześnie kilku lub nawet kilkudziesięciu małych części. Powoduje to znaczne skrócenie czasu potrzebnego na wykonanie pomiaru i inspekcji. Z kolei technologia wykonania urządzenia wraz z oprogramowaniem sterującym pozwala na automatyczne dobranie parametrów pomiaru, tym samym ułatwia pracę operatora.
JEDNO OPROGRAMOWANIE DO WSZYSTKIEGO
Jeden pakiet oprogramowania, GOM Volume Inspect umożliwia sterowanie urządzeniem oraz metrologiczną ocenę danych pomiarowych. Zapewnia to skrócenie całego łańcucha procesów, zaczynając od rejestracji surowych danych, poprzez obróbkę i analizę wyników, aż do utworzenia raportu pomiarowego. Nie ma więc potrzeby inwestowania w dodatkowe oprogramowanie ani żadne etapy pośrednie.
DANE TECHNICZNE
| Lampa rentgenowska | 160 kV |
| Detektor | 2,5 k |
| Objętość pomiarowa | 160 x 140 mm |
| Specyfikacja pomiarowa (MPE SD) | < 5 um |
| Wymiary | 1750 mm (szer.) x 1820 mm (wys.) x 870 mm (gł.) |
| Masa | 2100 kg |
| Oprogramowanie | GOM Volume Inspect |
Obszary zastosowania
- Inspekcja nieniszcząca
- jednoczesne prześwietlanie wielu części
Opcje kontroli:
- pomiary struktur wewnętrznych
- pomiary struktur zewnętrznych
- inspekcja 3D struktur wewnętrznych (np. jamy skurczowe)
PREZENTACJA SYSTEMU
Sprawdź czy metrologiczny tomograf komputerowy (CT) ZEISS METROTOM spełnia oczekiwania i zobacz jak łatwo pracuje się w jednym środowisku GOM Suite. Otrzymaj wysokiej jakości dane pomiarowe i sprawdź je w darmowym oprogramowaniu GOM. Prześlij do nas części, a za darmo wykonamy próbny pomiar lub umów się na prezentację.