Tomograf komputerowy ZEISS MTEROTOM 1500 należy do trzeciej generacji tomografów z serii METROTOM i umożliwia pomiar 3D nawet najmniejszych szczegółów wybranych części o gabarytach nawet do 1500 mm wysokości. Jest to dowód że bardzo dokładna, zaawansowana i niezawodna technologia rentgenowska spotyka się z wydajnością przemysłową.
SKANUJ SZYBCIEJ
Tomograf komputerowy ZEISS Metrotom 1500 to rozwiązania gdzie czas skanowania 3D możemy skrócić nawet o 75%, pracując w różnych trybach pracy detektora osiągając przy tym porównywalne wielkości woksela. Ze względu na mniejszy rozmiar woksela nowy detektor 3K umożliwia wyższą rozdzielczość nawet dla drobnych szczegółów i przy tym ostrzejszy obraz.
BEZPIECZNE I PEWNE POMIARY 3D
Kiedyś niewidoczne, teraz w zasięgu wzroku – dzięki rozwiązaniom promieniowania rentgenowskiego firmy ZEISS. To jedyny sposób na stwierdzenie, która z poniższych części jest bez wad.
Ta wada spowodowałaby wycofanie produktu, co jest bardzo kosztowne. Dzięki tomografii komputerowej mamy pewność naszych decyzji.
Czy możesz podjąć takie ryzyko?
Rozwiązania TOMOGRAFII KOMPUTEROWEJ ZEISS umożliwiają przeprowadzanie zaawansowanej i nieniszczącej kontroli jakości. Dzięki tej technologii niewidoczne stało się widoczne co gwarantuje pewność jakości produkowanych części.
KRÓTSZY CZAS POMIARU I WIĘCEJ MOŻLIWOŚCI
Obszar pomiarowy ZEISS METROTOM 1500 może osiągnąć maksymalne wymiary przestrzeni roboczej: 770 mm dla max. wysokości 1350 mm i 615 mm dla max. wysokości 1500 mm. Takie wymiary umożliwiają jednoczesny pomiar kilku mniejszych części. Wykonując jeden skan otrzymuje się informacje o kilku elementach jednocześnie co skraca czas potrzebny na sprawdzenie i analizę wszystkich części.
DANE TECHNICZNE
Źródło promieniowania RTG | 225 kV |
Detektor rentgenowski | rozdzielczość 3072 x 3072 pikseli |
Obszar pomiarowy | 1500 x 615 mm (1350 x 770) |
Rozmiar wokseli | 4.0 |
Wymiary | 3700 mm (szer.) x 2440 mm (wys.) x 1810 mm (gł.) |
Masa | 6600 kg |
Obszary zastosowania
- kontrola pierwszej części
- kontrola bieżącej produkcji
Opcje kontroli:
- pomiary struktur wewnętrznych
- grubość ścianek
- wady materiałowe
- pomiary struktur zewnętrznych
- pory i wnęki skurczowe
PREZENTACJA SYSTEMU
Sprawdź czy metrologiczny tomograf komputerowy (CT) ZEISS METROTOM spełnia oczekiwania i zobacz jak łatwo pracuje się w jednym środowisku GOM Suite. Otrzymaj wysokiej jakości dane pomiarowe i sprawdź je w darmowym oprogramowaniu GOM. Prześlij do nas części, a za darmo wykonamy próbny pomiar lub umów się na prezentację.